High Temperature Operating Life
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High Temperature Operating Life (HTOL, engl.) ist ein Zuverlässigkeitstest in der Halbleiter- bzw. Mikroelektronik. Dabei werden die Halbleiterbauelemente und auch -schaltungen werden während des Testes höherer Spannung und höheren Temperatur ausgesetzt.
Manchmal wird HTOL in Begriff mit „Lifetime Test“, „Device Life Test“ oder „Extended Burn in Test“ zusammengebracht.[1][2][3][4]
Einzelnachweise Bearbeiten
- ↑ AEC Documents AEC Documents
- ↑ JEDEC Standards JEDEC Standard
- ↑ METHOD 1005.8 STEADY-STATE LIFE. In: MIL-STD-883G. 1. Juni 1993 (q-tech.com (Memento vom 24. Juni 2013 im Internet Archive); PDF; 75 kB).
- ↑ Comparing the Effectiveness of Stress-based Reliability. Qualification Stress Conditions. (= Technology Transfer. #04034510A-TR) International SEMATECH, 12. April 2004 (sematech.org (Memento vom 20. Februar 2016 im Internet Archive)).